IDF2012：E7家族RAS创新内存故障预测

　　【专题报道】由英特尔主办的全球IT界高水平的技术论坛活动——2012英特尔信息技术峰会(Intel Developer Forum, IDF)，将于4月11至12日在北京国家会议中心举行。本届IDF以“未来在我‘芯’”为主题，前瞻IT产业的发展与计算体验的变革，共迎个性化计算时代的到来。

　　IT168将为您做全程会议报到。在这里您将了解到Intel最前沿的技术和最新的产品。下面为您介绍的就是此次IDF峰会的一场技术课程：英特尔至强处理器 E7 产品家族 RAS 创新 – 内存预测故障分析。

　　本技术课程的演讲专家为Anil Agrawal，RAS技术专家;龚毅敏，关键任务解决方案架构师。

　　首先来介绍一下至强E7处理器。英特尔至强E7系列处理器分为8800、4800、2800三大系列，分别针对8路、4路和双路的高端市场。至强E7以英特尔上一代至强7500为基础，建立了面向诸多高端计算应用，包括商业智能、实时数据分析和虚拟化的全新标准。这些全新的处理器还提供高级安全特性，可确保更好的数据完整性，以巩固数据中心的安全防线。由于采用了领先的32纳米芯片制程工艺，以及最多可集成10个支持英特尔超线程技术的内核，E7相比英特尔至强7500系列处理器，其性能提升最多可达40%。

　　RAS：RAS是Reliability(可靠性), Availability(可用性)和Serviceability(可维护性)的缩写，是电脑硬件工程上的术语，最初来自IBM公司为其大型主机所做的宣传广告，强调大型主机系统的坚韧强固：稳定性、可用性、可维护性。

　　如今这个概念已广为人知，并被延伸到广域的企业应用领域，成为评估企业业务系统稳定可靠方面的一项指标。尤其在关键任务领域，往往要求具有高度的可靠性和灾难恢复功能，业务支撑系统一旦出现故障，或者停止运行，那么所带来的损失是非常巨大的。

　　基于英特尔至强E7的产品家族，其PFA(预测故障分析)的动机就是最小化宕机时间。其关键任务目标是最小化非计划宕机时间。

• 第1页：E7家族RAS解析

• 第2页：E7家族RAS创新与内存故障预测分析

（编辑：ASP站长网）